如何選擇合適的顯微鏡，幫助用戶(hù)實(shí)現(xiàn)高效的工作流程?

　　本文討論了顯微分析和質(zhì)量控制的選擇。(QC)還有故障分析(FA)和研發(fā)(R&D)客戶(hù)在使用數(shù)字顯微鏡之前應(yīng)該考慮的問(wèn)題。關(guān)鍵是要提前充分了解汽車(chē)、電子、機(jī)械工程、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)的應(yīng)用要求和客戶(hù)需求。顯微鏡的解決方案不僅要幫助用戶(hù)實(shí)現(xiàn)高效可靠的顯微分析，QC、FA和R&D工作也應(yīng)易于操作，滿(mǎn)足用戶(hù)需求，并便于報(bào)告和共享結(jié)果。

　　為什么要使用數(shù)字檢測(cè)顯微鏡?

　　如今，汽車(chē)、運(yùn)輸、電子、機(jī)械工程、醫(yī)療設(shè)備等許多行業(yè)越來(lái)越多地選擇以工作流程為核心的生產(chǎn)流程。此舉是為了制造性能更好、使用壽命更長(zhǎng)的商品，在滿(mǎn)足日益嚴(yán)格的質(zhì)量規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)的前提下，仍然保持制造過(guò)程的經(jīng)濟(jì)性。

　　工業(yè)生產(chǎn)與生產(chǎn)，工藝技術(shù)，質(zhì)量控制與保證(QC/QA)、故障分析(FA)、產(chǎn)品創(chuàng)新，或者研發(fā)(R&D)顯微鏡通常需要檢查零件。顯微鏡的功能在檢測(cè)效率上可以有很大的差異[1,2]。更多關(guān)于選擇常規(guī)檢測(cè)顯微鏡考慮的信息，讀者可以查看參考文件1。

　　使用數(shù)字顯微鏡可以檢查、記錄和深入分析零件，以高效、可靠和符合人體工程學(xué)的方式確認(rèn)是否符合產(chǎn)品規(guī)格[2,3]。數(shù)字顯微鏡直接顯示在顯示屏上，而不是目鏡。

　　若決定使用數(shù)碼顯微鏡進(jìn)行顯微分析，用戶(hù)應(yīng)確定顯微鏡的光學(xué)性能和定制性能能滿(mǎn)足顯微分析，QC、FA和R&D的需要。下面討論了客戶(hù)需要考慮的主要因素，以幫助用戶(hù)選擇顯微分析所需的數(shù)字顯微鏡。

　　需要考慮的問(wèn)題

　　放大倍率和分辨率

　　從宏觀整體到微觀細(xì)節(jié)，有些部件需要進(jìn)行微觀分析：從宏觀(>2mm)到細(xì)觀(2mm到500μm)，再次進(jìn)入微觀(50微米至1微米)[參考圖1]。

　　照片

　　圖1：這個(gè)圖表顯示了使用顯微鏡進(jìn)行顯微分析時(shí)定義的長(zhǎng)度比例。

　　鑒于數(shù)碼顯微鏡的性能，以下是顯微分析這些尺寸比例時(shí)需要考慮的關(guān)鍵因素[1]：

　　為了呈現(xiàn)細(xì)微或微觀比例的細(xì)微細(xì)節(jié)，充分提高放大倍率和分辨率。

　　擴(kuò)大范圍，方便用戶(hù)快速?gòu)牧慵疽鈭D轉(zhuǎn)移到觀察細(xì)節(jié)(參照下面的例子)

　　顯微鏡的性能也取決于光學(xué)器件對(duì)偏色和圖像平整度的校準(zhǔn)能力，例如復(fù)消色差校準(zhǔn)和平面誤差校準(zhǔn)[1]。

　　主要應(yīng)用領(lǐng)域

　　同樣重要的是確定數(shù)字顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域。以下是顯微分析和質(zhì)量控制的列表。(QC)、故障分析(FA)和研發(fā)(R&D)的行業(yè)。

　　在線，隨機(jī)，或離線質(zhì)量控制(QC)

　　在大多數(shù)情況下，生產(chǎn)過(guò)程中的顯微分析和在線和隨機(jī)QC將直接在操作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行，以檢測(cè)產(chǎn)品是否存在任何缺陷或異常。快速檢查或選擇生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，有助于確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。離線QC通常在生產(chǎn)活動(dòng)的不同階段進(jìn)行，但為了進(jìn)一步減少甚至清除不符合特定規(guī)格的檢測(cè)產(chǎn)品，離線QC的頻率低于在線或隨機(jī)QC，通常需要對(duì)零件進(jìn)行更詳細(xì)的調(diào)查。

　　快速檢查或深入分析(FA或FA)R&D)

　　FA來(lái)源于生產(chǎn)或服務(wù)時(shí)期，以及原型設(shè)計(jì)和產(chǎn)品研發(fā)(R&D)，有時(shí)可能需要快速檢查或深入分析零件?？焖贆z查或深入分析可用于分析故障的根本原因，也可用于研發(fā)階段的原型研究。根本原因分析通常需要詳細(xì)評(píng)估一個(gè)或多個(gè)零件或連接，以便清楚地了解產(chǎn)品故障的原因。在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中，原型設(shè)計(jì)一般可以快速檢查或深入分析零件和連接，從而實(shí)現(xiàn)改進(jìn)，進(jìn)而驗(yàn)證產(chǎn)品特性，高效投入生產(chǎn)。

　　數(shù)碼顯微鏡提高顯微分析效率

　　適當(dāng)?shù)膽?yīng)用領(lǐng)域

　　可以通過(guò)選擇合適的數(shù)碼顯微鏡(參照下圖2和表1)來(lái)滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)顯微分析的需求，QC、不同的FA和R&D需求。

　　Emspira3數(shù)碼顯微鏡有利于高效顯微分析、基礎(chǔ)分析和記錄在線或隨機(jī)QC，同時(shí)宏觀觀察(>2mm到500)μm)FA和R&D的快速檢查比例實(shí)現(xiàn)。

　　DVM6數(shù)字顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)高效的顯微分析、詳細(xì)的分析和記錄，確保FA和R&D在細(xì)節(jié)到微觀(2mm到1微米)的比例上離線QC和深入分析。

　　使用Emspira3或DVM6數(shù)碼顯微鏡時(shí)，該圖表顯示了相應(yīng)的比例范圍。對(duì)每個(gè)顯微鏡來(lái)說(shuō)，在選擇最合適的解決方案以幫助優(yōu)化工作流程時(shí)，應(yīng)考慮每個(gè)顯微鏡的具體優(yōu)點(diǎn)。

　　在應(yīng)用領(lǐng)域，數(shù)碼顯微鏡

　　快速檢查在線或隨機(jī)QC/FA或R&D工作

　　深入分析離線QC/FA或R&D工作

　　Emspira3

　　DVM6

　　從宏觀到細(xì)觀(>2mm到50μm)

　　仔細(xì)觀察微觀(2mm到1微米)

　　表1：適用于使用Emspira3和DVM6數(shù)字顯微鏡進(jìn)行顯微分析和質(zhì)量控制(QC)、故障分析(FA)和研發(fā)(R&D)應(yīng)用領(lǐng)域。

　　數(shù)碼顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)

　　下表2顯示了Emspira3或DVM6數(shù)字顯微鏡給用戶(hù)帶來(lái)的不同優(yōu)勢(shì)。

　　Emspira3

　　DVM6

　　組件的大面積(最大面積=76)可以在概覽中的單個(gè)圖像中看到×43mm)

　　光學(xué)、照明、傾斜角度、相機(jī)設(shè)置等重要參數(shù)都可以通過(guò)編碼系統(tǒng)輕松存儲(chǔ)和快速調(diào)用，

　　為了以更高的放大倍率和分辨率呈現(xiàn)細(xì)節(jié)，快速放大感興趣的區(qū)域。

　　利用XYZ多種載物臺(tái)快速、快速地查看零件細(xì)節(jié)：該載物臺(tái)既可手動(dòng)移動(dòng)，又可電動(dòng)控制。

　　即使在單獨(dú)的運(yùn)行模式下，也可以在沒(méi)有計(jì)算機(jī)的情況下分析、比較和共享數(shù)據(jù)。

　　采用集成傾斜支架和各種光學(xué)對(duì)比方法(如LED環(huán)形燈和同軸照明)，可以快速呈現(xiàn)難以看到的零件細(xì)節(jié);完全集成，無(wú)需在使用過(guò)程中臨時(shí)安裝

　　使用編碼變焦光電器件，確保得到正確的結(jié)果。

　　使用拓展景深(EDoF)與XYZ拼湊技術(shù)相比，對(duì)于高度差較大的區(qū)域，可以快速獲得大型拼湊示意圖

　　堅(jiān)固的IP21外殼可以保護(hù)內(nèi)部的光學(xué)設(shè)備和機(jī)械設(shè)備，保證能在工業(yè)環(huán)境中長(zhǎng)期工作。

　　物鏡通過(guò)滑動(dòng)快速更改;從最小放大倍率快速切換到最大放大倍率

　　選擇減少細(xì)菌傳播風(fēng)險(xiǎn)的抑菌表面

　　只要使用自動(dòng)對(duì)焦功能開(kāi)始研究，就可以在保持圖像清晰對(duì)焦的同時(shí)瀏覽樣品。

　　最高分辨率為3微米(337線對(duì)//mm)

　　最高分辨率為0.42μm(2,366線對(duì)/mm)

　　使用1,200萬(wàn)像素相機(jī)傳感器獲得清晰的圖像。

　　使用1,000萬(wàn)像素相機(jī)傳感器獲得清晰的圖像

　　表2：在顯微分析、質(zhì)量控制、FA和R&D方面，Emspira3和DVM6數(shù)碼顯微鏡具有優(yōu)勢(shì)。

　　QC在線、隨機(jī)或離線示例：

　　顯微分析電子設(shè)備

　　在線或隨機(jī)QC

　　當(dāng)使用在線QC檢查缺陷或錯(cuò)誤時(shí)，顯微鏡一般可用于：

　　獲取零件的總體示意圖，降低放大倍率。

　　對(duì)零件感興趣的區(qū)域進(jìn)行快速放大，后者需要在較高的放大倍率下進(jìn)行更詳細(xì)的檢查，以便查看細(xì)節(jié)。

　　顯示了用數(shù)碼顯微鏡(如Emspira3)記錄的硬盤(pán)部件圖像，這是一個(gè)在線或隨機(jī)QC的潛在案例。在這種情況下，我們可以看到硬盤(pán)磁盤(pán)或磁盤(pán)讀寫(xiě)頭和驅(qū)動(dòng)臂(圖3a)的示意圖。然后，通過(guò)輕松快速地增加變焦指數(shù)，可以記錄讀寫(xiě)頭和驅(qū)動(dòng)臂的圖像(圖3b)，然后在較高的放大倍率下出現(xiàn)劃痕(缺陷)進(jìn)行記錄。