電子顯微鏡是一種用高能電子束研究物體的科學(xué)儀器。掃描電子顯微鏡(SEM)在中間，一個(gè)高能集中的電子束被用來(lái)形成圖像，而不是光。通過(guò)這種方式，我們可以獲得形態(tài)信息(物體的表面特征)、形態(tài)信息(構(gòu)成物體粒子的形狀和大小)、構(gòu)成信息(構(gòu)成物體的元素和化合物及其數(shù)量)和晶體信息(原子在物體中的排列)。

　　今日，小編將介紹電子顯微鏡的缺點(diǎn)：

　　1.電子顯微鏡中的樣本必須在真空中觀察，因此無(wú)法觀察活樣本。隨著技術(shù)的進(jìn)步，環(huán)境掃描電子顯微鏡將逐步實(shí)現(xiàn)對(duì)活樣的直接觀察;

　　2.在處理樣本時(shí)，可能會(huì)產(chǎn)生樣本沒(méi)有的結(jié)構(gòu)，這加劇了后期圖像分析的難度;

　　3.由于電子散射能力極強(qiáng)，容易發(fā)生二次衍射等;

　　4.因?yàn)槎S平面投影像是一個(gè)三維物體，有時(shí)看起來(lái)并不唯一;

　　5.由于透射電子顯微鏡只能觀察到非常薄的樣本，因此物質(zhì)表面的結(jié)構(gòu)可能與物質(zhì)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)不同;

　　6.超薄樣品(100納米以下)，制樣過(guò)程復(fù)雜，制樣困難，造成損傷;

　　7.通過(guò)碰撞和加熱，電子束可能會(huì)損壞樣品;

　　另外，購(gòu)買(mǎi)和維護(hù)電子顯微鏡的價(jià)格相對(duì)較高。